atrankùmas, selektyvùmas, matavimo sistemos savybė, naudojama nurodytoje matavimo procedūroje, pagal kurią sistema teikia vieno arba kelių matuojamųjų dydžių tokias išmatuotąsias dydžio vertes, kad kiekvieno matuojamojo dydžio vertės nepriklauso nuo kitų matuojamųjų dydžių arba kitų dydžių, apibūdinančių tiriamą reiškinį, kūną arba medžiagą. Pvz., jonizuojančiosios spinduliuotės matuoklio atrankumas – gebėjimas reaguoti į tam tikrą matuojamąją spinduliuotę esant šalutinei spinduliuotei.

3020

Papildoma informacija
Turinys
Bendra informacija
Straipsnio informacija
Autorius (-iai)
Redaktorius (-iai)
Publikuota
Redaguota
Siūlykite savo nuotrauką