interferomètras (lot. inter – tarp + ferens – nešantis + gr. metron – matas), prietaisas, kurio veikimas grindžiamas bangų interferencijos reiškiniu. Interferometrai skirstomi į akustinius (akustinis interferometras), optinius ir radiointerferometrus. Optiniame interferometre šviesos pluoštas specialiu optiniu įtaisu perskiriamas į du ar daugiau koherentinių pluoštelių, kurie nueina skirtingus optinius kelius ir susikirtę interferuoja sukurdami vienodo storio arba vienodo polinkio interferencines juosteles. Interferencinį vaizdą lemia interferuojančių pluoštelių perskyrimo būdas, jų skaičius, santykinis intensyvumas, spinduolio matmenys ir tipas, spinduliuotės spektras. Pagal interferuojančių pluoštelių skaičių optiniai interferometrai yra dvispinduliniai (Fizeau, Jamino, Rayleigh, Michelsono, Roždestvenskio interferometrai ir jų atmainos, interferenciniai komparatoriai) ir daugiaspinduliniai (Fabry ir Pérot, Lummerio ir Gehrcke’s). Lazerinio interferometro šviesos šaltinis yra lazeris. Naudojami holografiniai lazeriniai interferometrai. Lazerinio interferometro atmaina yra skaidulinis optinis interferometras, kuriame koherentinės bangos sklinda skaiduliniu šviesolaidžiu. Matavimo ir tyrimo įvairiais interferometrais metodai (interferometrija) yra labai tikslūs (galima pasiekti net λ/200 tikslumą; čia λ – spinduliuotės bangos ilgis). Analizuojant interferometru gautą interferencinį vaizdą (iš juostų formos, pločio, poslinkio) galima nustatyti vieną arba kelis matuojamus dydžius, tirti sparčius reiškinius (pvz., plazmoje, tam naudojami lazeriniai interferometrai). Naudojant lazerius, kompiuterius ir fotoelektrinį registravimo metodą sukurti automatizuoti patikimi ir labai tikslūs interferenciniai matavimo metodai. Optiniai interferometrai naudojami spinduliuotės spektro linijų sandarai tirti, spektro linijų bangos ilgiams, skaidrių medžiagų lūžio rodikliui, absoliutiems ir santykiniams kalibrų ilgiams ir detalių mechaniniams poslinkiams matuoti, optinių detalių (veidrodžių, lęšių, prizmių) formai, jų paviršiaus mikroreljefui ir deformacijai tirti, paviršių švarumui kontroliuoti, žvaigždžių kampiniams matmenims matuoti. Interferometrai naudojami spektroskopijoje, astrofizikoje, refraktometrijoje, defektoskopijoje ir kitur.
1333