plazmos diagnostika
plãzmos diagnòstika, plazmos parametrų, nusakančių vidutinę dalelių energiją, plazmos spinduliavimo intensyvumą, plazmos elektrinio ir magnetinio laukų matavimas. Plazmos diagnostikos metodai skirstomi į aktyviuosius (plazmos parametrai matuojami tiesiogiai keičiant jos būseną) ir pasyviuosius (matavimo metu plazma nekinta). Dažniausiai plazmos parametrai nustatomi Langmuiro zondu (aktyvusis būdas) – mažyčiu į plazmą įdėtu elektrodu. Žinant zondu tekančios elektros srovės soties vertę apskaičiuojama krūvininkų (jonų ir elektronų) koncentracija, pagal voltamperinės charakteristikos formą esant mažoms zondo potencialo vertėms nustatoma elektronų temperatūra. Plazmos magnetinis laukas tiriamas magnetiniu zondu – miniatiūriniu solenoidu, kuris registruoja magnetinio lauko laikinį kitimą, iš jo nustatomas magnetinio lauko stipris. Karštajai plazmai (T > 105 K) įprastiniai zondų metodai netinka, todėl ji tiriama spektroskopiniais metodais arba elektronų pluoštu. Pluoštas dėl plazmos elektrinio ir magnetinio laukų poveikio nukrypsta nuo tiesiaeigio judėjimo. Pagal šį nuokrypį įvertinamas plazmos elektrinio lauko vidutinis stipris. Kosmoso plazmoje krūvininkų koncentracija nustatoma nagrinėjant superaukštojo dažnio spinduliuotės sąveiką su plazma. Visų rūšių plazmos diagnostikai baigtiniame plazmos parametrų intervale tinka neinvaziniai spektroskopiniai metodai (iš spektro linijų pločio ir formos nustatoma plazmos temperatūra ir krūvininkų koncentracija). Laboratorinė plazma tiriama nagrinėjant lazerio pluošto sklaidą joje ir taikant interferencinį metodą. Dėl šiluminio jonų judėjimo vyksta Dopplerio reiškinys, t. y. atsiranda spektro linijos poslinkis, proporcingas jonų greičiui ir temperatūrai. Krūvininkų koncentracija ir vietiniai elektriniai laukai apibūdinami pagal emisijos linijų išplitimą, atsirandantį dėl Starko reiškinio. Plazmos jonų pasiskirstymas pagal energiją nustatomas išmatavus jų energijos spektrą. Greitųjų atomų energija matuojama pakankamai toli nuo plazmos. Plazmos diagnostikoje t. p. naudojami scintiliaciniai ir puslaidininkiniai jutikliai (didelės energijos dalelėms užrašyti), elektriniai ir magnetiniai laukai (mažos energijos dalelėms).
2268