reñtgeno mikroskòpija, objektų mikroskopinės sandaros tyrimų metodų naudojant rentgeno spinduliuotę visuma. Skirama atspindžio (grindžiama visiškuoju išoriniu atspindžiu nuo veidrodinių paviršių arba atspindžiu nuo monokristalų), projekcinė (grindžiama šešėline projekcija), difrakcinė (jungia rentgeno spinduliuote ir regimąja spinduliuote gautus vaizdus) rentgeno mikroskopija ir kontaktinė mikrorentgenografija (šešėlinis atvaizdas gaunamas bandiniui kontaktuojant su fotografine emulsija). Tiriama rentgeno mikroskopu. Rentgeno spinduliuotė fokusuojama naudojant visiškąjį išorinį atspindį nuo gaubtų veidrodinių paviršių arba kristalografinių plokštumų. Mikroskopo skiriamoji geba (apie 0,1–0,3 μm) yra 2–3 eilėmis didesnė už optinių mikroskopų skiriamąją gebą. Atvaizdo kontrastą lemia nevienoda rentgeno spinduliuotės sugertis įvairiose objekto vietose.
1333